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天線測(cè)量的問題

文章來源: 互聯(lián)網(wǎng)    錄入: mweda.com   

 
近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)中,探頭陣列對(duì)待測(cè)天線的平面波照射是測(cè)量的關(guān)鍵技術(shù)之一 
 
我想問下，平面波照射待測(cè)天線是起到什么作用？謝謝！

網(wǎng)友回復(fù):

天線近場(chǎng)測(cè)量實(shí)際上是用的互易原理，也就說我們要測(cè)量天線的遠(yuǎn)場(chǎng)特性（增益，方向圖等）。而近場(chǎng)測(cè)量中我們用陣列探頭綜合出某個(gè)方向入射的平面波來照射被測(cè)天線，根據(jù)互易原理，此時(shí)被測(cè)天線的接受幅度實(shí)際上就是相當(dāng)于被測(cè)天線在該方向的輻射遠(yuǎn)場(chǎng)幅度。這樣我們就得到了該天線的輻射遠(yuǎn)場(chǎng)特性。 
  不知道我寫清楚了沒有。如果沒有寫清楚，請(qǐng)指出哪里有疑問我繼續(xù)回答。

網(wǎng)友回復(fù):

非常感謝，你說的很清楚！

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