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電磁兼容

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當(dāng)今的設(shè)計工程師不但要能夠設(shè)計出能正常工作的求解來，還需要能將各種可能的副作用考慮進(jìn)去從而滿足各種國際標(biāo)準(zhǔn)(如：器件的容許輻射強度等)。交叉調(diào)制也會破壞系統(tǒng)的正常功能。

這類問題應(yīng)在正式生產(chǎn)前做到心中有數(shù)。CST先進(jìn)的仿真工具能使工程師們在最短的時間內(nèi)達(dá)到設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)。

車內(nèi)手機輻射的電場近場分布

以下您還可看到屏蔽盒，TEM 單元和從PC中輻射出的能量等例子。
PC機的電磁泄漏
cst　

我們將整個PC分成線路板和硬盤等，置入一個500MHz的耦極子，計算輻射。結(jié)果令人驚訝的是：輻射并不從通風(fēng)槽處泄漏反倒從由于制造誤差而引起細(xì)小的裂縫處泄漏。見下圖（磁通密度絕對值）。

屏蔽盒
cst　

李女士的屏蔽盒
此例給出一個細(xì)槽電磁干擾問題。它來自內(nèi)部干擾源與腔體模式間的相互耦合。以下文章提供了有限時域差分（FDTD）的仿真結(jié)果與測量值間的比較。文章為：M. Li, J. Nuebel, J.L. Drewniak, R.E. DuBroff, T.H. Hubing and T.P. Van Doren in: "EMI from Cavity Modes of Shielding Enclosures - FDTD Modeling and Measurements", IEEE Trans. on Electromagnetic Compatibility, 42, 1, Feb. 2000.

這類問題的討論對于屏蔽盒在高速數(shù)字電路中屏蔽有效性的研究上有著重要的價值。冷卻風(fēng)扇槽、電纜接口、CD ROM槽口及其他開口均是降低屏蔽盒有效性的因素。作者在文章中描述了FDTD方法在計算此類中的有效性。我們用CST微波工作室對他們的例子做了仿真得到了很好的結(jié)果。由于PBA，我們只需很少的網(wǎng)點便可對同軸線和細(xì)槽進(jìn)行建模。

傳輸功率：測量值（黑實線）、李女士及我們的計算值（黑虛線）。28000個網(wǎng)點（計算時間9分鐘，綠線）已可以得到較好的精度。加密網(wǎng)格（35分鐘計算時間）后精度更加提高。其中都采用了自回朔濾波器（Auto-regressive filter）來縮短計算時間。計算是在Pentium II 400MHz PC上完成的。

3米外的電場強度：測量值（黑實線）和李等人和我們的計算值（黑虛線）。CST感謝Dr. Caniggia at ITALTEL, Milano為其提供了這些數(shù)據(jù)。意大利電信運營商采用CST微波工作室來解決他們的電磁兼容性問題。
TEM單元
cst　

TEM單元被廣泛地用于電磁兼容測量中。為得到高的測量精度，必須知道未加載時單元中場的分布情況以及被測物對該場的影響。我們計算了一個內(nèi)含隔片介質(zhì)加載了的TEM單元。150MHz的TEM波從左面的窄邊饋入。單元兩邊均為匹配。圖示為電場。

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    原帖由 zzx20307117 于 2007-1-9 09:35 PM 發(fā)表
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