8960 手機(jī)射頻測(cè)試使用操作培訓(xùn)—— CDMA 篇
內(nèi)容簡(jiǎn)介
>>>返回8960手機(jī)測(cè)試培訓(xùn)套裝<<<
8960 是美國(guó)安捷倫(Agilent)公司生產(chǎn)的手機(jī)綜測(cè)儀,可以用于 GSM、CDMA2000 、WCDMA 等各種制式的射頻性能測(cè)試。Agilent 8960 和羅德-施瓦茨 CMU200 是手機(jī)研發(fā)設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過程中最常用的兩款綜測(cè)儀,對(duì)于手機(jī)射頻工程師和測(cè)試工程師,掌握8960的使用操作是必不可少的工作技能要求。 現(xiàn)在,本站推出Agilent 8960 使用操作培訓(xùn)教程套裝,可以幫助有志于成為手機(jī)射頻工程師和測(cè)試工程師快速學(xué)習(xí)掌握 8960 的使用。套裝中CDMA手機(jī)測(cè)試篇包含以下教程:
01. 8960 CDMA RF 指標(biāo)測(cè)試指導(dǎo) 02. 8960 CDMA2000 射頻性能測(cè)試 03. 8960 1xEV-DO Moblie Test Manual Operation Guide
01. 8960 CDMA RF 指標(biāo)測(cè)試指導(dǎo)
國(guó)內(nèi)某知名手機(jī)設(shè)計(jì)公司編寫的使用Agilent 8960 測(cè)試CMDA RF指標(biāo)操作手冊(cè),詳細(xì)講解CDMA手機(jī)射頻項(xiàng)的儀器設(shè)置和具體測(cè)試操作步驟步驟,其具體內(nèi)容如下: 開環(huán)輸出功率范圍測(cè)試步驟 接入探測(cè)輸出功率測(cè)試步驟 最小受控輸出功率測(cè)試步驟 碼域功率和相位誤差測(cè)試步驟 RF最大輸出功率測(cè)試步驟 在加性高斯白噪聲條件下前向業(yè)務(wù)信道的解調(diào)測(cè)試步驟 接受靈敏度和動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試步驟 門控輸出功率測(cè)試步驟 最大/最小功率測(cè)試步驟 開環(huán)功率控制的時(shí)間響應(yīng)測(cè)試步驟 傳導(dǎo)性雜散發(fā)射測(cè)試步驟 波形質(zhì)量/碼域功率測(cè)試步驟
02. 8960 CDMA2000 射頻性能測(cè)試
CDMA2000 基礎(chǔ)介紹和8960測(cè)試操作培訓(xùn)講義,內(nèi)容有: CDMA2000基礎(chǔ)簡(jiǎn)單介紹 8960 儀器介紹 CDMA2000 測(cè)試項(xiàng)介紹
03. 8960 1xEV-DO Moblie Test Manual Operation Guide
使用Agilent 8960 手動(dòng)測(cè)試EVDO 射頻指標(biāo)的英文原版操作手冊(cè),由安捷倫科技依據(jù)3GPP2 C.S0033規(guī)范編寫。內(nèi)容如下: Introduction Performing Individual Measurements Measuring Access Probe Power General Procedure Testing 3.1.2.3.1 Range of Open Loop Output Power Measuring Channel Power General Procedure Testing 3.1.2.3.5 Minimum Controlled Output Power Measuring Digital Average Power General Procedure Testing 3.1.2.3.4 Maximum RF Output Power Measuring Packet Error Rate (PER) General Procedure Testing 3.1.1.2.1 Demodulation of Forward Traffic Channel in AWGN Testing 3.1.1.3.1 Receiver Sensitivity and Dynamic Range Measuring Time Response of Open Loop Power Control (TROLPC) General Procedure Testing 3.1.2.3.2 Time Response of Open Loop Power Control Measuring TX Spurious Emissions General Procedure Testing 3.1.2.4.1 Conducted Spurious Emissions Measuring Waveform Quality + Code Domain Power General Procedure Testing 3.1.2.2.2 Waveform Quality and Frequency Accuracy Testing 3.1.2.3.7 RRI Channel Output Power Testing 3.1.2.3.8 Code Domain Power
>>>返回8960手機(jī)測(cè)試培訓(xùn)套裝<<<
|