CST總部最新的RCS應(yīng)用文章

RCS的數(shù)值計算法中，有矩量法、有限元、有限積分法等；高頻方法中有集合光學(xué)法、物理光學(xué)法、一致繞射法、物理繞射法。其各自優(yōu)勢在相關(guān)書籍中都有詳盡的說明，這里不做多說。

常見的RCS仿真困難的地方在于：

1、由于電尺寸大因此需要占用巨大系統(tǒng)資源問題

2、各個參量設(shè)置對于仿真時間的影響

3、多反射、散射導(dǎo)致的問題的復(fù)雜性加大，從而需要保證求解的精度

4、全波仿真中對于頻率提高沒有適當(dāng)計算方式。

在CST2010版中，對于單方向的單站/雙站RCS問題的解決方案可以通過積分求解器與時域求解器；對于多方向的單站RCS問題，可以通過積分求解器與高頻方法。

其中時域的優(yōu)勢在于：能計算寬帶RCS，適合電中尺寸以及對于復(fù)雜CAD物理模型的RCS能有著較高的精度。

積分求解器優(yōu)勢在于：適用于計算電大尺寸以及RCS單頻點的角度掃描。

高頻漸進求解器的優(yōu)勢在于：適用于超電大的理想金屬體，支持RCS角度掃描與寬帶掃描，同時對于復(fù)雜物理結(jié)構(gòu)也能保證求解精度。

此外，豐富的后處理、以及對于RAM涂覆材料仿真都能考慮記及。

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