CST屏蔽效能的計(jì)算時場值應(yīng)該用什么？

CST MWS計(jì)算箱體屏蔽效能的問題|

這是一個老帖，我有一個疑問。在計(jì)算屏蔽效能的時候，是用沒屏蔽時機(jī)箱內(nèi)一點(diǎn)處的場強(qiáng)減去有屏蔽時同一點(diǎn)處的場強(qiáng)。
而帖子中采用的是在空間中探點(diǎn)得到的場強(qiáng)：

這和老帖中得到的結(jié)果一樣。但是……
可是如果我用把模型設(shè)成不參與仿真計(jì)算的模式，其他都不變，然后看箱內(nèi)同一點(diǎn)的場強(qiáng)：

這兩個明顯不同，如果帶入SE的計(jì)算，結(jié)果自然也不一樣。那么我究竟應(yīng)該用哪一個是對的呢？

而且這兩種方式測出的值量值上差了好多，這又是什么原因呢？

第一個仿真中應(yīng)該有箱體反射的影響，應(yīng)該以第二個為準(zhǔn)，但平面波默認(rèn)是1V/m,也就是0dB，這個可以不計(jì)算直接用
箱體不參與仿真得到的探針結(jié)果和0dB比較接近，但還是不一樣，可以認(rèn)為是仿真誤差或和網(wǎng)格有關(guān)

也就是說我如果要計(jì)算箱體的屏蔽效能SE的話，直接用第二個的結(jié)果減去我正常帶箱體算出來的場強(qiáng)就可以了是嗎？

是的，或者干脆取箱體內(nèi)電場探針的dB值得相反數(shù)（-10dB取10dB），就是屏蔽效能了，減都省了

好的，謝謝！